第40回インターネプコン ご来場の御礼
第40回インターネプコンご来場の御礼
第40回インターネプコンには、多くのお客様にご来場いただき、誠にありがとうございました。
今回の展示では、次世代のはんだ付けプロセス提案 「はんだ付け不良0へ」 の取り組みとして、
弊社のセレクティブはんだ槽と検査を融合し、検査後のNG箇所を自動修正して不良基板を出さない
コンセプトユニット「SELBOⅢ-350SHMVE」 をご紹介いたしました。
多くのお客様より反響とデモのご依頼を頂戴し、心より御礼申し上げます。
また、以下の製品も展示し、好評をいただきました。
- 基板検査装置
- 加工部品検査装置
- 微細傷検査機
- 2Headディスペンサー
さらに設備以外にも、既存設備の保守管理自動化ツール 「Drパレット」 をはじめ、
「ドロスカプセル」や「ドロス削減ノズル」など、
弊社装置をご使用中のお客様にメリットを提供できる多様なアイテムをご紹介することができ、
3日間を通して大変活況のうちに終了することができました。
今後も、装置およびはんだ付けに関わる製品開発に努め、
お客様にご評価いただける製品を提供できるよう尽力してまいります。
