第40回インターネプコン 出展のご案内
会期：2026年1月21日(水)～23日(金) 10:00～17:00
会場：東京ビッグサイト 弘輝テック展示ブース：東4ホール E4-2
来場者登録のご案内
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出展予定装置
セレクティブはんだ付けシリーズ
■卓上型/オールインワンタイプ
新デザイン『ULTIMA‐TRZⅡ/SPZⅡ/NEO-L316』をNEWカラーで展示
■インラインタイプ
次世代はんだ付けプロセスをSELBOⅢモジュールで参考展示
生産性改善、トレーサビリティー
始業点検自動化（Drパレット）トレサ（ソルダリングアイ）等、生産性向上のアイテムも展示
検査・計測検査機シリーズ
■3D基板外観検査装置(RV-2-3DH)
実装ラインの検査工程に必要な機能を集約
SPI、AOI、防湿剤塗布検査共用マルチプラットフォーム検査機
品質・工程管理に活用するための豊富なオプションを用意
■非実装検査装置(SE100＋協働ロボット)
“キズ無きことへの挑戦”
11.5μm分解能白黒カメラで機械加工品を中心に目視検査の自動化を実現
協働ロボットとの組み合わせ事例を展示いたします
■微小欠陥検査機
高速2D検査と高精度(1μm)3D検査を実現
バンプ/パターン検査等に最適なソリューションを提供します
2D検査分解能1.1μm/0.55μm/0.275μmから選択可能
3D検査分解能XY 1.2μm/Z 0.02μm
展示ブースのご案内
